一种高精度光轴以及多光轴平行性调校方法
实质审查的生效
摘要

本发明公开了一种高精度光轴以及多光轴平行性调校方法,包括如下步骤:S1、将固定板移动到调校位置,位于光轴的一端位置;S2、拉动横杆带着调节筒调节位置,处于光轴的另一端位置;S3、通过光源发出光线,对照一个光轴的中心位置,保证反射光线返回重合,标定形成基准位置;S4、转动调节筒的方向,将光源对准另一个光轴,重复校准,形成标定位置;S5、将光线透过光轴照射到第一反光镜上,形成基准光线;S6、形成调校光线;S7、接收调校光线进行观测记录;S8、调节另一个光轴的位置,对应调校光线,保证重合,形成表标定光线;S9、两次标定后即可完成平行性调校,这样能够大大提高使用的便利性和稳定性,保证调校的精确高效性。

基本信息
专利标题 :
一种高精度光轴以及多光轴平行性调校方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114326137A
申请号 :
CN202111653564.1
公开(公告)日 :
2022-04-12
申请日 :
2021-12-30
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
胡逢斌
申请人 :
浙江华威型钢科技有限公司
申请人地址 :
浙江省丽水市莲都区南明山街道云景路126号
代理机构 :
温州瓯越专利代理有限公司
代理人 :
潘佳佳
优先权 :
CN202111653564.1
主分类号 :
G02B27/30
IPC分类号 :
G02B27/30  G02B27/34  G02B27/36  G01B11/26  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G02
光学
G02B
光学元件、系统或仪器附注
G02B27/00
不能分入G02B 1/00-G02B 26/00,G02B 30/00的其它光学系统或其它光学仪器
G02B27/30
准直仪
法律状态
2022-04-29 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G02B 27/30
申请日 : 20211230
2022-04-12 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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