马赫曾德尔干涉仪光子晶体光纤折射率传感器及制备方法
实质审查的生效
摘要

本发明提供了一种马赫曾德尔干涉仪光子晶体光纤折射率传感器,包括依次耦合的第一单模光纤、细芯光纤、光子晶体光纤以及第二单模光纤,相邻两段光纤通过熔接方式耦合,传输光经过第一单模光纤进入细芯光纤以及光子晶体光纤,最后从第二单模光纤射出。本发明利用直接熔接的方式,将一段细芯光纤和一段光子晶体光纤熔接在两段单模光纤之间,形成复合型MZI器件,可以通过细芯光纤和光子晶体光纤的长度来获得高质量的干涉光谱,操作简便,加工效率高,成本低,适用于不同类型的光纤折射率器件,本方案相比于传统PCF器件具有更高的折射率灵敏度及更高的条纹分辨率,可用于生物医药和食品等领域。

基本信息
专利标题 :
马赫曾德尔干涉仪光子晶体光纤折射率传感器及制备方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114279965A
申请号 :
CN202111655293.3
公开(公告)日 :
2022-04-05
申请日 :
2021-12-30
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
董欣然段吉安孙小燕银恺
申请人 :
中南林业科技大学;中南大学
申请人地址 :
湖南省长沙市韶山南路498号
代理机构 :
长沙轩荣专利代理有限公司
代理人 :
黄艺平
优先权 :
CN202111655293.3
主分类号 :
G01N21/01
IPC分类号 :
G01N21/01  G01N21/41  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/01
便于进行光学测试的装置或仪器
法律状态
2022-04-22 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 21/01
申请日 : 20211230
2022-04-05 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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