一种光纤折射率传感器
授权
摘要

本实用新型公开了一种光纤折射率传感器,所述光纤折射率传感器包括:用于接收入射光的入射光纤;用于将所述入射光分为第一部分光和第二部分光的第一个球型结构;用于传输所述第一部分光和所述第二部分光的连接光纤;用于将所述连接光纤中包层的所述第二部分光被待测液体调制的光纤侧抛结构;用于将所述连接光纤中包层的所述第二部分光耦合回纤芯的第二个球形型结构;用于将所述第二个球形型结构发出的光传输给光谱分析仪的出射光纤。本实用新型的光纤折射率传感器能够将待测折射率的变化量转化为探测信号的光谱波长漂移,具有制作简便、结构简单、成本低、灵敏度高、抗腐蚀和抗外界电磁干扰能力强,可以应用于各类实际工程中。

基本信息
专利标题 :
一种光纤折射率传感器
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202021467940.9
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-07-22
授权号 :
CN212722604U
授权日 :
2021-03-16
发明人 :
周祝鑫向子瑒马正宜陈志超龚子丹万刘伟张倩倩
申请人 :
深圳技术大学
申请人地址 :
广东省深圳市坪山区创景路竹韵花园幼儿园204
代理机构 :
深圳市君胜知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
徐凯凯
优先权 :
CN202021467940.9
主分类号 :
G01N21/45
IPC分类号 :
G01N21/45  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
G01N21/41
折射率;影响相位的性质,例如光程长度
G01N21/45
利用干涉量度法,利用纹影方法
法律状态
2021-03-16 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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