点云质量评估方法、装置、电子设备和存储介质
公开
摘要

本发明涉及数据分析技术领域,提供一种点云质量评估方法、装置、电子设备和存储介质。通过获取经分割后的多个点云数据,这多个点云数据包括多个点云类别,每个点云数据均有点云类别和置信度;然后根据每个点云类别中点云数据的置信度,得到每个点云类别的评估参数;最后根据全部点云类别的评估参数,对全部点云数据进行质量评估。通过分割后点云数据的点云类别和置信度,对原始点云数据的分割结果进行质量评估,从而实现了对点云数据分割质量的自动化评估,降低了评估的处理时长,提高了评估效率。

基本信息
专利标题 :
点云质量评估方法、装置、电子设备和存储介质
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114299043A
申请号 :
CN202111659438.7
公开(公告)日 :
2022-04-08
申请日 :
2021-12-30
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
杨若楠翁立宇
申请人 :
广州极飞科技股份有限公司
申请人地址 :
广东省广州市天河区高普路115号C座
代理机构 :
北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 :
张欣欣
优先权 :
CN202111659438.7
主分类号 :
G06T7/00
IPC分类号 :
G06T7/00  G06T7/10  G06K9/62  G06V10/762  G06V10/764  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算;推算或计数
G06T
一般的图像数据处理或产生
G06T7/00
图像分析
法律状态
2022-04-08 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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