集成电路质量评价方法、装置、计算机设备和存储介质
实质审查的生效
摘要
本申请涉及一种集成电路质量评价方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品。所述方法包括：获取集成电路产品质量的质量影响要素集，其中，质量影响要素集包括n个级联的质量影响要素，且第i+1级质量影响要素为第i级质量影响要素的影响因子，1≤i≤n，且n为大于等于2的正整数；并根据质量影响要素集构建质量评价指标体系；进而根据质量评价指标体系对集成电路的产品质量进行评价。通过本方法增加了每级质量评价要素的全面性及关联性，使得集成电路的质量评价体系更加全面和具体，增加了集成电路质量评价体系的准确度。
基本信息
专利标题 ：
集成电路质量评价方法、装置、计算机设备和存储介质
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114331161A
申请号 ：
CN202111659736.6
公开（公告）日 ：
2022-04-12
申请日 ：
2021-12-30
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
曲晨冰路国光林晓玲高汭孙宸恩云飞陈义强王力纬
申请人 ：
中国电子产品可靠性与环境试验研究所（（工业和信息化部电子第五研究所）（中国赛宝实验室））
申请人地址 ：
广东省广州市增城区朱村街朱村大道西78号
代理机构 ：
华进联合专利商标代理有限公司
代理人 ：
袁武
优先权 ：
CN202111659736.6
主分类号 ：
G06Q10/06
IPC分类号 ：
G06Q10/06 G06Q50/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算；推算或计数
G06Q
专门适用于行政、商业、金融、管理、监督或预测目的的数据处理系统或方法；其他类目不包含的专门适用于行政、商业、金融、管理、监督或预测目的的处理系统或方法
G06Q10/00
行政；管理
G06Q10/06
资源、工作流、人员或项目管理，例如组织、规划、调度或分配时间、人员或机器资源；企业规划；组织模型
法律状态
2022-04-29 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G06Q 10/06
申请日 : 20211230
申请日 : 20211230
2022-04-12 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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