本发明提供了一种电老化试验用无钉夹具，属于半导体分立器件老化试验技术领域，包括固定部、压块组件和两组卡扣，通过使用两组卡扣将压块组件卡紧固定在固定部上端，同时使待试验产品固定在老化板上端，两组卡扣与固定部和压块组件连接方式简单，不使用螺钉和压条固定待试验产品，对产品的固定操作效率高。本发明提供的电老化试验用无钉夹具，解决了现有技术老化试验中紧固待试验产品方式存在工作量大，占用劳动力多的技术问题，具有通用性强，避免外观损伤，降低工作量和劳动力，操作效率约提升3.5倍的技术效果。