一种单粒子注入方法及单粒子注入设备
实质审查的生效
摘要
本发明公开了一种单粒子注入方法及单粒子注入设备,涉及存储领域,所述单粒子注入方法,适用于单粒子注入设备,所述单粒子注入设备结构包括主机以及至少一个单粒子注入装置,包括:主机接收启动指令,并将启动指令传递至单粒子注入装置,响应于所述启动指令,至少一个单粒子注入装置产生场效应,并将所述场效应传递至接收目标,响应于所述场效应,接收目标电位状态发生转变。可见,本发明的实施例提供了一种单粒子注入方法及单粒子注入设备,通过单粒子注入装置对接收目标释放并传递场效应,通过场效应诱发接收目标的半导体器件电位状态高低状态的转变。并且对场效应释放以及强度和周期可以根据需求控制,以实现人工单粒子注入。
基本信息
专利标题 :
一种单粒子注入方法及单粒子注入设备
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114509655A
申请号 :
CN202111665125.2
公开(公告)日 :
2022-05-17
申请日 :
2021-12-31
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
金辉王碧赵巍胜王昭昊
申请人 :
北京航空航天大学
申请人地址 :
北京市海淀区学院路37号
代理机构 :
北京墨丘知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
唐忠仙
优先权 :
CN202111665125.2
主分类号 :
G01R31/26
IPC分类号 :
G01R31/26
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/26
•单个半导体器件的测试
法律状态
2022-06-03 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 31/26
申请日 : 20211231
申请日 : 20211231
2022-05-17 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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