一种原位施加单轴应变测量磁性的装置及方法
公开
摘要
本发明提供一种原位施加单轴应变测量磁性的装置及方法，属于磁性测量技术领域。该装置由放置样品的样品仓和能够深入样品仓的加压螺栓构成，通过转动螺栓将应变施加到样品上，样品上部和下部分别设置垫片。该装置通过调整样品仓和加压螺栓的半径可以调整样品尺寸。通过调整加压螺栓的旋转圈数即可调整样品所受的应变。本发明的原位施加单轴应变测量磁性的装置是一种可以在样品上施加单轴应变测量磁性的装置。该装置有助于研究单轴压力对样品磁性的影响，对认识磁性材料中多个有序参量的相互作用机制具有重要意义。
基本信息
专利标题 ：
一种原位施加单轴应变测量磁性的装置及方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114296016A
申请号 ：
CN202111665694.7
公开（公告）日 ：
2022-04-08
申请日 ：
2021-12-30
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
乔凯明张虎于子原梁宇航陈浩东丛君状
申请人 ：
北京科技大学
申请人地址 ：
北京市海淀区学院路30号
代理机构 ：
北京市广友专利事务所有限责任公司
代理人 ：
张仲波
优先权 ：
CN202111665694.7
主分类号 ：
G01R33/12
IPC分类号 ：
G01R33/12 G05D15/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R33/00
测量磁变量的装置或仪器
G01R33/12
测量物品的磁性或者固体或流体样品的磁性
法律状态
2022-04-08 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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