双光栅光谱仪
公开
摘要

本发明提供一种双光栅光谱仪,包括激光器、准直透镜组、平行双光栅组件、非球面聚焦透镜组和面阵探测器;其中,激光器发出的激光照射到被测样品激发出信号光,信号光经准直透镜组准直为平行光后入射至平行双光栅组件,信号光在平行双光栅组件内进行若干次色散分光后入射到非球面聚焦透镜组,经非球面聚焦透镜组消像差后被面阵探测器接收。本发明采用两个平行交错放置的平面反射光栅作为平行双光栅组件,因其独特的衍射特性,能够极大地增强平行双光栅组件的角色散能力,是同等光栅周期的平面光栅的上百倍,这使得光谱仪拥有超高的分辨率,可以达到皮米量级。平行双光栅组件还具有一定的抗杂散光能力。

基本信息
专利标题 :
双光栅光谱仪
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114295208A
申请号 :
CN202111668604.X
公开(公告)日 :
2022-04-08
申请日 :
2021-12-31
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
李晓天陈俊吉日嘎兰图初启航姚雪峰刘忠凯孙雨琦
申请人 :
中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
申请人地址 :
吉林省长春市经济技术开发区东南湖大路3888号
代理机构 :
长春中科长光知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
高一明
优先权 :
CN202111668604.X
主分类号 :
G01J3/02
IPC分类号 :
G01J3/02  G01J3/28  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分,偏振、相位或脉冲特性的测量;比色法;辐射高温测定法
G01J3/00
光谱测定法;分光光度测定法;单色器;测定颜色
G01J3/02
零部件
法律状态
2022-04-08 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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