浸没式中阶梯光栅光谱仪的光路结构及光谱仪
公开
摘要

本发明涉及成像光谱仪技术领域,具体提供一种浸没式中阶梯光栅光谱仪的光路结构以及光谱仪,所述光路结构包括入射狭缝、准直系统、主色散系统、二级色散系统、聚焦系统以及探测器;被探测物质进入所述入射狭缝,产生的入射光束入射到所述准直系统,经过所述准直系统准直后,变成平行光束;所述平行光束经过所述主色散系统进行第一次色散,再经过所述二级色散系统进行第二次色散,得到二维光谱;所述二维光谱经过所述聚焦系统聚焦后,成像至所述探测器。本发明提供的光路结构与光谱仪,不仅大大提高了光学系统的效率和光谱分辨率,也使得光谱仪在空间上更加紧凑,同时,对于制冷型红外光谱仪来说,提高了系统的稳定性。

基本信息
专利标题 :
浸没式中阶梯光栅光谱仪的光路结构及光谱仪
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114608704A
申请号 :
CN202210380794.3
公开(公告)日 :
2022-06-10
申请日 :
2022-04-12
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
王庆宇沈宏海刘伟奇
申请人 :
中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
申请人地址 :
吉林省长春市经济技术开发区东南湖大路3888号
代理机构 :
长春中科长光知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
陈陶
优先权 :
CN202210380794.3
主分类号 :
G01J3/28
IPC分类号 :
G01J3/28  G01J3/18  G01J3/02  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分,偏振、相位或脉冲特性的测量;比色法;辐射高温测定法
G01J3/00
光谱测定法;分光光度测定法;单色器;测定颜色
G01J3/28
光谱测试
法律状态
2022-06-10 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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