一种在线修改测试向量进行热点分析的方法和系统
实质审查的生效
摘要
本发明属于电子技术领域，具体涉及一种热点分析的方法和系统，包括：S1：将一失效芯片设置在一热点分析设备使用的测试板上，并通过单片机推送一测试程序到所述失效芯片中，通过一示波器捕捉波形比对一自动测试设备波形，确认所述失效芯片正常运行的测试程序；S2：通过所述热点分析设备对所述失效芯片进行一热点分析。有益效果：实现了对失效芯片产品在自动测试状态下进行热点分析，提高了产品的检出率，有效改善了芯片产品的生产质量。
基本信息
专利标题 ：
一种在线修改测试向量进行热点分析的方法和系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114487769A
申请号 ：
CN202111669983.4
公开（公告）日 ：
2022-05-13
申请日 ：
2021-12-30
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
刘威龙季春葵郑朝晖
申请人 ：
上海季丰电子股份有限公司
申请人地址 ：
上海市闵行区友东路258-288号2幢101室
代理机构 ：
上海申新律师事务所
代理人 ：
党蕾
优先权 ：
CN202111669983.4
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2022-05-31 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 31/28
申请日 : 20211230
申请日 : 20211230
2022-05-13 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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