调试方法、装置、存储介质及电子设备
实质审查的生效
摘要

本公开涉及一种调试方法、装置、存储介质及电子设备,以解决相关技术中存在的问题。该方法包括:响应于用户针对待调试应用程序中的三维数字资产的调试操作,获取调试信息;其中,所述调试操作是所述用户在确定所述三维数字资产在待调试应用软件中的呈现效果不满足预设效果的情况下进行的,所述待调试应用软件是指对所述待调试应用程序进行打包并安装后的应用软件;根据所述调试信息生成调试请求;将所述调试请求发送给所述待调试应用软件,以使所述待调试应用软件基于所述调试信息调试所述待调试应用软件中的目标三维数字资产。

基本信息
专利标题 :
调试方法、装置、存储介质及电子设备
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114490345A
申请号 :
CN202111671120.0
公开(公告)日 :
2022-05-13
申请日 :
2021-12-31
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
王海波田宽
申请人 :
粒界(上海)信息科技有限公司
申请人地址 :
上海市杨浦区霍山路398号15层1502-1503室
代理机构 :
北京英创嘉友知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
张岩龙
优先权 :
CN202111671120.0
主分类号 :
G06F11/36
IPC分类号 :
G06F11/36  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算;推算或计数
G06F
电数字数据处理
G06F11/00
错误检测;错误校正;监控
G06F11/36
通过软件的测试或调试防止错误
法律状态
2022-05-31 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G06F 11/36
申请日 : 20211231
2022-05-13 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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