一种IGBT短路检测、保护电路及其短路检测、保护方法
实质审查的生效
摘要

本申请提供了一种IGBT短路检测、保护电路及其短路检测、保护方法。其中,IGBT短路检测电路包括采样电路、比较电路和计时电路;计时电路连接于比较电路,比较电路连接于采样电路,采样电路用于连接待测IGBT中辅助射极与功率射极之间的杂散电感;采样电路用于对杂散电感的电压进行采集;比较电路用于将杂散电感的电压与预设的基准电压进行比较,并根据比较结果输出第一信号;计时电路用于根据第一信号处于预设电平状态的时长,输出指示待测IGBT是否发生短路的第二信号,且第一信号处于预设电平状态的时长为流过杂散电感的电流的上升沿的持续时长。本申请提升了对IGBT进行短路检测时的响应速度,从而减小了IGBT在短路时的损坏风险,同时也提升了IGBT的安全性。

基本信息
专利标题 :
一种IGBT短路检测、保护电路及其短路检测、保护方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114441917A
申请号 :
CN202111672823.5
公开(公告)日 :
2022-05-06
申请日 :
2021-12-31
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
吴晓光黄辉傅俊寅汪之涵
申请人 :
深圳青铜剑技术有限公司
申请人地址 :
广东省深圳市坪山区坑梓街道秀新社区锦绣中路14号深福保现代光学厂区B栋201
代理机构 :
深圳市恒申知识产权事务所(普通合伙)
代理人 :
郑姣
优先权 :
CN202111672823.5
主分类号 :
G01R31/26
IPC分类号 :
G01R31/26  G01R31/52  G01R19/00  H02H7/20  H02H3/08  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/26
•单个半导体器件的测试
法律状态
2022-05-24 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 31/26
申请日 : 20211231
2022-05-06 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
  • 联系电话
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332
  • 联系 Q Q
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332
  • 关注微信
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332
  • 收藏
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332