一种异形构件测量定位装置及方法
实质审查的生效
摘要

本发明公开了一种异形构件测量定位装置及方法,其属于钢结构技术领域,异形构件测量定位装置包括辅助工装、反光片和全站仪,辅助工装包括支撑部和设置于所述支撑部两侧的延伸部,所述支撑部能够穿设于异形构件上的定位孔,所述延伸部伸出所述定位孔;每个所述延伸部上至少贴设一个所述反光片;全站仪能够观测所述定位孔的轴向上的点且能够对所述反光片进行坐标测量。异形构件测量定位方法采用上述异形构件测量定位装置。通过辅助工装,由支撑部穿设于定位孔,延伸部伸出定位孔,相当于将定位孔的轴向进行了延长,反光片贴在延伸部上,便于全站仪进行测量;通过全站仪对反光片进行坐标测量,因此能够推算定位孔的中心坐标,获得数据准确且快捷。

基本信息
专利标题 :
一种异形构件测量定位装置及方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114440765A
申请号 :
CN202111673489.5
公开(公告)日 :
2022-05-06
申请日 :
2021-12-31
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
金伟峰严斌郑益泽武诣霖陈晓明周锋贾宝荣王扬越朱志杰符晗吕海涛陆轶辉吴希昊周俊卢振罗文华
申请人 :
上海市机械施工集团有限公司
申请人地址 :
上海市静安区洛川中路701号5号楼108室
代理机构 :
北京品源专利代理有限公司
代理人 :
王士强
优先权 :
CN202111673489.5
主分类号 :
G01B11/00
IPC分类号 :
G01B11/00  G01C15/00  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
法律状态
2022-05-24 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01B 11/00
申请日 : 20211231
2022-05-06 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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