一种异形薄壁中空结构件用厚度测量装置
授权
摘要

本实用新型公开了一种异形薄壁中空结构件用厚度测量装置,包括可调式测量支架、水平设置在所述可调式测量支架的端部用于夹持结构件的测量探头组件、以及水平设置在所述可调式测量支架一侧用于测量所述结构件厚度的深度卡尺。本实用新型通过设置所述可调式测量支架和测量探头组件,可依据被检测异形结构件的形貌尺寸调整本测量装置各部件的尺寸规格,适用于较大尺寸范围的异形中空薄壁结构件的厚度检测,具有更广泛的适用性;同时利用设置在所述可调式测量支架上的深度卡尺可在生产现场实现对结构件的实时厚度测量,无需拆卸送检,无需专用检测平台,便携性强,可调性较高。

基本信息
专利标题 :
一种异形薄壁中空结构件用厚度测量装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202021691645.1
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-08-13
授权号 :
CN212931265U
授权日 :
2021-04-09
发明人 :
康文杰程皓闵明刘维鹏闫联生张永辉
申请人 :
西安超码科技有限公司
申请人地址 :
陕西省西安市高新区锦业一路56号研祥城市广场B座23层楼2322室
代理机构 :
西安创知专利事务所
代理人 :
魏法祥
优先权 :
CN202021691645.1
主分类号 :
G01B5/06
IPC分类号 :
G01B5/06  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B5/00
以采用机械方法为特征的计量设备
G01B5/02
用于计量长度、宽度或厚度
G01B5/06
用于计量厚度
法律状态
2021-04-09 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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