一种观测系统对全球电离层数据同化性能的影响评估方法
实质审查的生效
摘要
本发明公开了一种观测系统对全球电离层数据同化性能的影响评估方法，包括如下步骤：步骤A，地基和天基观测系统基本参数输入；步骤B，GNSS卫星和LEO掩星卫星的轨道坐标计算；步骤C，地基和天基电离层观测数据仿真；步骤D，基于Kalman滤波的全球电离层数据同化；步骤E，电离层TEC和电子密度同化性能评估。本发明所公开的方法，对观测系统采用仿真试验手段（OSSE），利用NeQuick模型模拟生成不同观测手段“真实”的观测数据，同时基于Kalman滤波同化算法对各种观测系统的观测数据进行同化处理，并采用总电子含量（TEC）和电子密度（Ne）的技术分（Skill Score）评估方法，对各类观测系统及其组合对全球电离层数据同化性能的影响进行定量评估。
基本信息
专利标题 ：
一种观测系统对全球电离层数据同化性能的影响评估方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114417580A
申请号 ：
CN202111675121.2
公开（公告）日 ：
2022-04-29
申请日 ：
2021-12-31
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
欧明陈龙江杨升高许娜王妍吴家燕陈亮熊雯冯健甄卫民
申请人 ：
中国电波传播研究所（中国电子科技集团公司第二十二研究所）
申请人地址 ：
山东省青岛市城阳区仙山东路36号
代理机构 ：
青岛博雅知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
封代臣
优先权 ：
CN202111675121.2
主分类号 ：
G06F30/20
IPC分类号 ：
G06F30/20 G01S19/37 G01W1/10 G06F111/10
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算；推算或计数
G06F
电数字数据处理
G06F30/20
设计优化、验证或模拟
法律状态
2022-05-20 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G06F 30/20
申请日 : 20211231
申请日 : 20211231
2022-04-29 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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