调整基座装置及方法
实质审查的生效
摘要
本发明提供了一种调整基座装置，所述调整基座装置包括检测部和调整部，所述检测部用于检测基座的边缘以获取最大弧长，所述检测部还用于检测所述检测部与基座之间的最短距离，所述调整部与所述检测部连接，所述调整部用于根据所述最大弧长、所述最短距离和预设的标准数据调整基座的水平位置和中心位置。本发明还提供了一种调整基座方法。
基本信息
专利标题 ：
调整基座装置及方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114322772A
申请号 ：
CN202111675360.8
公开（公告）日 ：
2022-04-12
申请日 ：
2021-12-31
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
柴雪李晶野沢俊久
申请人 ：
拓荆科技股份有限公司
申请人地址 ：
辽宁省沈阳市浑南区水家900号
代理机构 ：
上海恒锐佳知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
黄海霞
优先权 ：
CN202111675360.8
主分类号 ：
G01B11/00
IPC分类号 ：
G01B11/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
法律状态
2022-04-29 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01B 11/00
申请日 : 20211231
申请日 : 20211231
2022-04-12 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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