光斑外接圆测试工装及测试方法
实质审查的生效
摘要

本发明涉及光斑测试技术领域,具体而言,涉及一种光斑外接圆测试工装及测试方法。光斑外接圆测试工装包括底座、线性位移台、角度位移台、光束质量分析仪和读数头安装架;线性位移台和读数头安装架均安装于底座,角度位移台安装于线性位移台的移动部,光束质量分析仪安装于角度位移台的旋转部,读数头安装架用于安装读数头,光束质量分析仪的接收面与读数头的发光端相对设置;移动部至少能够沿Y轴移动,旋转部能够绕X轴和Y轴转动,X轴与读数头俯仰运动的轴线平行,Y轴垂直于光束质量分析仪的接收面。测试方法应用于上述光斑外接圆测试工装。本发明提供的光斑外接圆测试工装及测试方法,可获得读数头在真实工况下发出的两个光斑的外接圆直径。

基本信息
专利标题 :
光斑外接圆测试工装及测试方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114322804A
申请号 :
CN202111677478.4
公开(公告)日 :
2022-04-12
申请日 :
2021-12-31
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
高嘉铭高立冬邵禹韬
申请人 :
北京华卓精科科技股份有限公司
申请人地址 :
北京市大兴区北京经济技术开发区科创十街19号院2号楼2层(北京自贸试验区高端产业片区亦庄组团)
代理机构 :
北京荟英捷创知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
左文
优先权 :
CN202111677478.4
主分类号 :
G01B11/08
IPC分类号 :
G01B11/08  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
G01B11/08
用于计量直径
法律状态
2022-04-29 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01B 11/08
申请日 : 20211231
2022-04-12 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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