一种显示屏的自动测试平台
公开
摘要
本发明提供一种显示屏的自动测试平台，包括设置于测试平台内侧的连通组件，所述连通组件与待测显示屏接口相匹配，所述测试平台为中空的环状结构，所述测试平台底部设置有支撑组件，所述支撑组件上设置有与待测显示屏上的检测部分相匹配的通孔，实现对待测显示屏的支撑；还包括采集面板，所述采集面板设置于测试平台正上方，实现对待测显示屏上的LED灯珠的逐一数据采集；还包括贴标装置，所述贴标装置与待测显示屏上的LED灯珠相匹配，实现对损坏LED灯珠的精准贴标。本发明能够通过设置贴标装置和识别装置，实现对贴标装置、待测显示屏以及采集面板的四角相对重合，实现对待测显示屏上损坏LED灯珠的针对性检测与准确标记。
基本信息
专利标题 ：
一种显示屏的自动测试平台
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114325464A
申请号 ：
CN202111682668.5
公开（公告）日 ：
2022-04-12
申请日 ：
2021-12-31
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
杨李龙田艳秋李晓辉曹锡文
申请人 ：
天津天星电子有限公司
申请人地址 ：
天津市滨海新区经济技术开发区
代理机构 ：
北京沁优知识产权代理有限公司
代理人 ：
郭衍飞
优先权 ：
CN202111682668.5
主分类号 ：
G01R31/44
IPC分类号 ：
G01R31/44 G01M11/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/44
•测试灯
法律状态
2022-04-12 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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