一种射频线缆在位检测结构以及电子设备
授权
摘要
本申请提供一种射频线缆在位检测结构以及电子设备，涉及电子技术领域，该检测结构能够实现通过两个识别接口识别三根射频电缆中每根射频电缆的连接状态，并且对出现异常的射频电缆进行定位，且该结构成本低廉。该检测结构包括第一射频线缆连接结构、第二射频线缆连接结构和第三射频线缆连接结构。其中，第一射频线缆连接结构与第二射频线缆连接结构串联，第三射频线缆连接结构与第二射频线缆连接结构串联，且第一射频线缆连接结构与第三射频线缆连接结构并联。第一射频线缆连接结构和第三射频线缆连接结构远离第二射频线缆连接结构的一端上分别连接有第一检测接口和第二检测接口，第二射频线缆连接结构远离第一射频线缆连接结构的一端接地连接。
基本信息
专利标题 ：
一种射频线缆在位检测结构以及电子设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202121668535.8
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-07-20
授权号 ：
CN216209786U
授权日 ：
2022-04-05
发明人 ：
张子炎
申请人 ：
荣耀终端有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市福田区香蜜湖街道东海社区红荔西路8089号深业中城6号楼A单元3401
代理机构 ：
北京中博世达专利商标代理有限公司
代理人 ：
申健
优先权 ：
CN202121668535.8
主分类号 ：
G01R31/66
IPC分类号 ：
G01R31/66
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/66
连接的测试，例如插头或不可断开连接测试
法律状态
2022-04-05 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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