本实用新型涉及微电子技术领域，具体地说，涉及一种多点接触的微电子器件测试设备，包括测试体，测试体包括底板，底板的表面一端安装有测试仪，测试仪的端部通过若干根导线均连接有针体，底板的表面上设有载板，载板的上方设有调节组件，调节组件包括固定板，固定板的内部滑动连接有若干滑块，滑块均与针体的表面连安装，滑块的端部均插接有固定杆，固定板的一端部安装有连接板，连接板与载板的表面滑动连接。通过若干个针体可同时对电路板的表面焊接点进行多个点位的通电测试，且经滑块的调节滑动，可使得相邻针体之间的间距得到变化，以便于针体足够适配于目前电路板表面的焊接点位置。