变频器测试系统
授权
摘要
本申请提供了一种变频器测试系统，包括机架、设置在所述机架上的测试转盘组件和对接模组，所述测试转盘组件包括：测试转盘，用于承载待测变频器；至少一个回转支承组件，用于支撑所述测试转盘绕中心轴旋转，所述回转支承组件包括：销轴，以及套设在所述销轴上的第一向心轴承和第二向心轴承，所述第一向心轴承和所述第二向心轴承的外圈分别与第一连接块和第二连接块连接，所述第一连接块和所述第二连接块之间设置有推力轴承，所述第一连接块和所述第二连接块分别与所述测试转盘和所述机架连接。
基本信息
专利标题 ：
变频器测试系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202122369389.5
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-09-27
授权号 ：
CN216310146U
授权日 ：
2022-04-15
发明人 ：
陈剑徐斌星李峰
申请人 ：
浙江海利普电子科技有限公司
申请人地址 ：
浙江省嘉兴市海盐县武原镇新桥北路339号
代理机构 ：
北京布瑞知识产权代理有限公司
代理人 ：
张欣
优先权 ：
CN202122369389.5
主分类号 ：
G01R31/00
IPC分类号 ：
G01R31/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）
法律状态
2022-04-15 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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