GPIO接口状态的测试装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种GPIO接口状态的测试装置，该测试装置包括：PC机、单片机以及测试治具；测试治具用于放置待测模块，待测模块包括多个第一GPIO接口；在待测模块上电后，PC机向单片机发送第一指令以获取每个第一GPIO接口所对应的第一电压值；若测试通过，PC机还用于向单片机发送下拉指令或者上拉指令，继续向单片机发送第二指令以获取每个第一GPIO接口所对应的第二电压值。本实用新型改变了传统的在被测模块GPIO接口上焊线，对其进行上下拉后再用万用表进行测量的方式，替代了传统的人工测试的方式，简化了GPIO接口状态的测试流程，提高了测试效率。
基本信息
专利标题 ：
GPIO接口状态的测试装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202122425096.4
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-09-30
授权号 ：
CN216209527U
授权日 ：
2022-04-05
发明人 ：
刘磊磊陈冬冬
申请人 ：
合肥移瑞通信技术有限公司
申请人地址 ：
安徽省合肥市高新区习友路3335号中国(合肥)国际智能语音产业园A区1号中试楼6楼
代理机构 ：
上海弼兴律师事务所
代理人 ：
杨东明
优先权 ：
CN202122425096.4
主分类号 ：
G01R31/00
IPC分类号 ：
G01R31/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）
法律状态
2022-04-05 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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