一种光电子器件良品检测设备
授权
摘要
本实用新型提供一种光电子器件良品检测设备,涉及光电器件检测技术领域,包括检测设备、底板、前面板和后盖板,底板活动安装在检测设备的底部,前面板固定安装在检测设备的正面,后盖板活动安装在检测设备的背面,检测设备的内部固定安装有散热机构,散热机构的底部固定安装在底板的顶部。通过设置有散热机构,将散热机构安装在检测设备的内侧,在散热机构的内侧安装有主扇叶和主电机,并且在散热机构的侧面开设有四个圆孔,在圆孔的内侧安装有辅电机和辅扇叶,从而方便了通过多部件的配合作用,有利于通过辅电机和辅扇叶的作用将检测设备内部热量集中到主扇叶和主电机处,最终通过主电机向外侧排出,且检测设备的顶部开设有顶通风孔。
基本信息
专利标题 :
一种光电子器件良品检测设备
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202122433267.8
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2021-10-09
授权号 :
CN216526064U
授权日 :
2022-05-13
发明人 :
王攀
申请人 :
信琦电子科技(苏州)有限公司
申请人地址 :
江苏省苏州市苏州工业园区娄葑东富路28号3幢1、2层
代理机构 :
代理人 :
优先权 :
CN202122433267.8
主分类号 :
G01R31/00
IPC分类号 :
G01R31/00 H05K7/20
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置;电故障的探测装置;以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置;在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66;线路传输系统的测试入H04B3/46)
法律状态
2022-05-13 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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