一种多探头测试装置
授权
摘要
本实用新型旨在提供一种兼容性强、调试方便的多探头测试装置。本实用新型包括屏蔽箱以及对称设置在所述屏蔽箱内的两组天线组，所述屏蔽箱内设置有与待测产品相适配的运输载板，所述运输载板上设置有产品限位槽，两组所述天线组的若干测试天线均匀分布在以所述产品限位槽为中心的球面上，两组所述天线组的若干测试天线均通过射频开关与上位机连接。本实用新型应用于天线测试的技术领域。
基本信息
专利标题 ：
一种多探头测试装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202122445573.3
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-10-12
授权号 ：
CN216525910U
授权日 ：
2022-05-13
发明人 ：
颜成文叶辉付伟元
申请人 ：
珠海博杰电子股份有限公司
申请人地址 ：
广东省珠海市香洲区福田路10号厂房1一楼-1、二、三、四楼
代理机构 ：
广州市红荔专利代理有限公司
代理人 ：
王贤义
优先权 ：
CN202122445573.3
主分类号 ：
G01R1/04
IPC分类号 ：
G01R1/04 G01R29/10 G01R1/18
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R1/00
包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件
G01R1/02
一般结构零部件
G01R1/04
外壳；支承构件；端子装置
法律状态
2022-05-13 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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