一种阻抗测试的探头装置
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摘要
本实用新型涉及电路板阻抗测试设备技术领域，尤其涉及一种阻抗测试的探头装置。探头装置包括装置本体、间距调节组件和探针组件；探针组件包括第一探针单元、第二探针单元和第三探针单元，第二探针单元和第三探针单元均固定设置在装置本体上，第一探针单元包括第一探针，第二探针单元包括第二探针，第三探针单元包括第三探针；间距调节组件包括X轴驱动机构和Y轴驱动机构，X轴驱动机构滑动设置在Y轴驱动机构上，第一探针单元滑动设置在X轴驱动机构上；间距调节组件用于调节第一探针与第二探针，以及第一探针与第三探针之间的距离。通过间距调节组件实现了探针间距自动化精确调整，提升了装置的阻抗测试效率和测试精度。
基本信息
专利标题 ：
一种阻抗测试的探头装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202123100681.3
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-12-10
授权号 ：
CN216646642U
授权日 ：
2022-05-31
发明人 ：
蔡林刘锐烁王天生
申请人 ：
广东正业科技股份有限公司
申请人地址 ：
广东省东莞市松山湖园区南园路6号
代理机构 ：
北京集佳知识产权代理有限公司
代理人 ：
韩丽波
优先权 ：
CN202123100681.3
主分类号 ：
G01R27/02
IPC分类号 ：
G01R27/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R27/00
测量电阻、电抗、阻抗或其派生特性的装置
G01R27/02
电阻、电抗、阻抗或其派生的其他两端特性，例如时间常数的实值或复值测量
法律状态
2022-05-31 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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