传感器探头冷热冲击试验台
授权
摘要
本实用新型涉及传感器试验设备领域，尤其是传感器探头冷热冲击试验台。该试验台包括机架、高频振动台台体、产品连接机构、水平直线模组、加热机构一、升降直线模组、控制机、加热机构二，所述机架上固定有高频振动台台体、水平直线模组、升降直线模组，高频振动台台体的支撑板上固定有产品连接机构，水平直线模组的滑座上固定有加热机构一，升降直线模组的滑座上固定有加热机构二。该实用新型能够通过控制机控制加热机构一和加热机构二的冷热，从而对传感器进行冷热测试。通过高频振动台台体对高频振动测试。本申请提高了传感器的测试效率，满足了室温至1100℃温度范围内的恒温或冷热冲击要求，实现了力学、温度的多场耦合。
基本信息
专利标题 ：
传感器探头冷热冲击试验台
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202122464662.2
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-10-13
授权号 ：
CN216483604U
授权日 ：
2022-05-10
发明人 ：
冯江涛代承植王杰华强冯国芳
申请人 ：
常州联德电子有限公司
申请人地址 ：
江苏省常州市西太湖科技产业园果香路56号
代理机构 ：
常州市夏成专利事务所(普通合伙)
代理人 ：
王敏
优先权 ：
CN202122464662.2
主分类号 ：
G01K15/00
IPC分类号 ：
G01K15/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01K
温度测量；热量测量；未列入其他类目的热敏元件
G01K15/00
温度计的测试或校准
法律状态
2022-05-10 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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