一种基于X射线多角度透视检测装置
授权
摘要

本实用新型公开一种基于X射线多角度透视检测装置,属于电路板检测装置技术领域,检测装置包括升降载物台、设于升降载物台上方的平板探测器和设于升降载物台下方的X射线管,升降载物台包括侧板、升降装置和升降平台,升降平台包括底板、底板上的驱动模组、驱动模组上的减速机、驱动所述减速机转动的电机一和与减速机的连接轴连接的载物托盘。本实用新型的一种基于X射线多角度透视检测装置,通过将被检测物体放置于载物托盘上,并用夹具固定,在装置运行时,载物托盘可以在减速机和电机一的带动下左右倾斜,改变成像角度,实现多角度观察物体,保证能准确找到电路板虚焊位置、空洞位置和断裂部分,帮助排查产生问题的源头,提升改进生产工艺。

基本信息
专利标题 :
一种基于X射线多角度透视检测装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202122485231.4
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2021-10-15
授权号 :
CN216560346U
授权日 :
2022-05-17
发明人 :
殷濛濛刘曦黄琼光
申请人 :
深圳市伟铭光电有限公司
申请人地址 :
广东省深圳市宝安区新桥街道新桥社区金元二路5号厂内楼房101
代理机构 :
深圳市江凌专利代理事务所(普通合伙)
代理人 :
陈晓霞
优先权 :
CN202122485231.4
主分类号 :
G01N23/04
IPC分类号 :
G01N23/04  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/02
通过使辐射透过材料
G01N23/04
并形成材料的图片
法律状态
2022-05-17 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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