一种多角度检测的X射线探伤设备
授权
摘要

本实用新型提供一种多角度检测的X射线探伤设备,包括X射线检测组、驱动设备固定件、驱动设备、工件夹持装置,所述驱动设备驱动所述X射线检测组运动,所述X射线检测组包括检测装置、连接器;所述检测装置的数量不少于两个,所述检测装置包括有支架、X射线发生单元、X射线成像单元,所述支架包括有两条相对应的镂空边,所述X射线发生单元、X射线成像单元分别安装所述镂空边上,所述支架通过连接器相互连接成爪型,所述工件夹持装置安装在所述X射线检测组的运动路径上,所述X射线发生单元分布在所述工件夹持装置周围的不同角度上,一次工作检测工件的一层,减少检测时间,该探伤设备结构简单,使用方便。

基本信息
专利标题 :
一种多角度检测的X射线探伤设备
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201920852701.6
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-06-06
授权号 :
CN210221865U
授权日 :
2020-03-31
发明人 :
刘东华王慧明
申请人 :
苏州科耐视智能科技有限公司
申请人地址 :
江苏省苏州市工业园区仁爱路150号
代理机构 :
北京远大卓悦知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
韩飞
优先权 :
CN201920852701.6
主分类号 :
G01N23/04
IPC分类号 :
G01N23/04  G01N23/046  G01N23/18  G01N23/083  F16M11/18  F16M11/04  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/02
通过使辐射透过材料
G01N23/04
并形成材料的图片
法律状态
2020-03-31 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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