X射线探伤仪检测用升降仪
授权
摘要
本实用新型公开了X射线探伤仪检测用升降仪，涉及X射线探伤检测技术领域，用于解决X射线探伤仪检测时水平和垂直距离调节非常繁琐的问题，本实用新型包括基座，所述基座外侧均匀设有4个支腿，所述基座上端面一侧设有千斤顶，另一侧设有倾斜向上的支撑气缸，所述支撑气缸往远离千斤顶的方向倾斜，所述千斤顶上设有放置板，所述放置板上设有一对卡槽以及和其中一个卡槽相配合的卡槽滑道；本实用新型具有结构简单，便于实现探伤仪水平和垂直方向调节的优点。
基本信息
专利标题 ：
X射线探伤仪检测用升降仪
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201922092473.X
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-11-28
授权号 ：
CN211263241U
授权日 ：
2020-08-14
发明人 ：
赵晓聪刘建国翟公坤张梦飞邓亚峰范晶晶陈丽丽
申请人 ：
河南华正工程试验检测有限责任公司
申请人地址 ：
河南省郑州市金水区北站路7号院
代理机构 ：
成都弘毅天承知识产权代理有限公司
代理人 ：
沈颖
优先权 ：
CN201922092473.X
主分类号 ：
G01N23/02
IPC分类号 ：
G01N23/02
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料，例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/02
通过使辐射透过材料
法律状态
2020-08-14 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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