便携式X射线探伤仪
专利权的终止专利权有效期届满
摘要
本实用新型提供一台用于医疗诊断和工业探伤的便携式O射线探伤仪。由外壳、支撑臂、O射线源、像增强器和电源组成。其特征在于像增强器是采用O射线直接转换成光电子一次转换的O光像增强器。本实用新型具有台式和手举式两种形式、均具结构简单、体积小、重量轻、使用灵活、携带方便、寿命长、图像清晰、对工作人员不会产生射线损伤、适宜于批量生产等优点。
基本信息
专利标题 ：
便携式X射线探伤仪
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN88217599.8
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
1988-10-11
授权号 ：
CN2035888U
授权日 ：
1989-04-12
发明人 ：
余加进于长海冯政新曹金洲王黎君翁明亮
申请人 ：
中国科学院上海光学精密机械研究所
申请人地址 ：
上海市8211信箱
代理机构 ：
中国科学院上海专利事务所
代理人 ：
李兰英
优先权 ：
CN88217599.8
主分类号 ：
G01N23/18
IPC分类号 ：
G01N23/18
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料，例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/02
通过使辐射透过材料
G01N23/06
并测量吸收
G01N23/18
测试缺陷或杂质存在
法律状态
1997-04-16 ：
专利权的终止专利权有效期届满
1994-01-26 ：
专利权有效期的续展(依据修改前的专利法第45条)
1989-12-20 ：
授权
1989-04-12 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
1、
CN2035888U.PDF
PDF下载
