异物检测设备
授权
摘要
本实用新型提供一种异物检测设备,包括检测设备主体和防护罩,所述防护罩中设有检测通道,所述检测通道用于容纳被检测物,所述检测设备主体用于对位于检测通道中的被检测物进行检测,所述防护罩的顶部设有与检测通道相通的开口。本异物检测设备,基于防护罩顶部设置的开口,使得悬挂在输送线上的被检测物能顺利通过检测通道,进而顺利实现对被检测物的在线检测,无需再进行人工将被检测物从输送线上取下等操作,节约了人工成本,并提高了检测效率,保证输送线的正常输送流程不会被打断。
基本信息
专利标题 :
异物检测设备
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202122559560.9
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2021-10-22
授权号 :
CN216484715U
授权日 :
2022-05-10
发明人 :
陆志文陈黎明蔡瑞明陈正彦苏述权钱昱烨吴家荣
申请人 :
上海高晶检测科技股份有限公司
申请人地址 :
上海市奉贤区德胜路252号6幢一层
代理机构 :
上海光华专利事务所(普通合伙)
代理人 :
郑冲
优先权 :
CN202122559560.9
主分类号 :
G01N23/18
IPC分类号 :
G01N23/18
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/02
通过使辐射透过材料
G01N23/06
并测量吸收
G01N23/18
测试缺陷或杂质存在
法律状态
2022-05-10 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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