一种基于双光纤自检紫外弧光技术的光纤探头
授权
摘要
本实用新型公开了一种基于双光纤自检紫外弧光技术的光纤探头，包括测头、固定管、弧光检测光纤和自检光纤，所述测头与固定管固定连接，在测头的内壁上设有反射膜片，弧光检测光纤的一端与自检光纤的一端均固定于固定管内，自检光纤射出的光源经过反射膜片发射后经过弧光检测光纤射出。本实用新型可同时实现开关柜的弧光监测和光纤自检，结构设置合理，使用效果好。
基本信息
专利标题 ：
一种基于双光纤自检紫外弧光技术的光纤探头
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202122593338.0
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-10-27
授权号 ：
CN216411428U
授权日 ：
2022-04-29
发明人 ：
李杏彬刘贵华
申请人 ：
南京中凯电气技术有限公司
申请人地址 ：
江苏省南京市鼓楼区幕府东路199号
代理机构 ：
南京汇盛专利商标事务所(普通合伙)
代理人 ：
徐彪
优先权 ：
CN202122593338.0
主分类号 ：
G01R31/00
IPC分类号 ：
G01R31/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）
法律状态
2022-04-29 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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