伽马射线源支架
授权
摘要

本实用新型伽马射线源支架,属于无损检测领域,目的是便于调控焦距并保持伽马源稳定,提高探伤效率。包括底面为平面的底座,竖杆垂直于底座的底面与底座相连接;竖杆插装于滑块上的通孔一内,滑块沿竖杆轴向与竖杆活动配合;导源管支撑件包括支撑杆和固定于支撑杆顶端的支座,支座的正面呈开口向上的弧形,支座的轴线垂直于支撑杆;支撑杆插接于滑块的通孔二内,并与滑块活动配合,且支座的轴线垂直于竖杆。通过滑块在竖杆上滑动达到调节焦距的目的,方便快捷对焦距进行调节,而正面呈圆弧形的支座安置导源管,并通过其上的绑带将导源管固定于支座上,有利于在工作中保持源的稳定的工作状态,提高效率。整个支架结构简单,成本较低且操作方便。

基本信息
专利标题 :
伽马射线源支架
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202122613777.3
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2021-10-26
授权号 :
CN216285002U
授权日 :
2022-04-12
发明人 :
洪其智邱东杰李硕卿阳
申请人 :
中国电建集团山东电力建设有限公司
申请人地址 :
山东省济南市汉峪金融商务中心三区5号楼
代理机构 :
成都希盛知识产权代理有限公司
代理人 :
芶雅灵
优先权 :
CN202122613777.3
主分类号 :
G01N23/18
IPC分类号 :
G01N23/18  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/02
通过使辐射透过材料
G01N23/06
并测量吸收
G01N23/18
测试缺陷或杂质存在
法律状态
2022-04-12 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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