一种新型伽马射线成像探测器
实质审查的生效
摘要
本发明提供一种新型伽马射线成像探测器,包括稀疏排列SiPM阵列、纯白反光罩、一体化光导和闪烁晶体;稀疏排列SiPM阵列由M x M个SiPM芯片均匀排布在一块PCB电路板正面,PCB电路板反面贴有电阻电容及连接器;纯白反光罩上根据稀疏排列SiPM阵列上SiPM芯片所处的位置开有M x M个通孔,通孔的外围尺寸大于SiPM芯片的尺寸;稀疏排列SiPM阵列靠近SiPM芯片的一侧依次设置有纯白反光罩和一体化光导,三者之间通过可固化胶水粘接形成光电探测单元;闪烁晶体的两个出光面均通过固化胶水与光电探测单元粘接形成整体,光电探测单元的一体化光导直接与闪烁晶体粘接。本发明成本低,增加光子反射从而提高光子搜集效率,获得更佳的闪烁晶体位置解码效果;进一步提升光子收集效率,同时可以提供伽马射线反应深度信息。
基本信息
专利标题 :
一种新型伽马射线成像探测器
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114442138A
申请号 :
CN202011214068.1
公开(公告)日 :
2022-05-06
申请日 :
2020-11-04
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
屈春蕾
申请人 :
天津市通透医疗科技有限公司
申请人地址 :
天津市西青区李七庄街天祥工业区商务区商务楼411-2室
代理机构 :
天津市君砚知识产权代理有限公司
代理人 :
张东浩
优先权 :
CN202011214068.1
主分类号 :
G01T1/202
IPC分类号 :
G01T1/202
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01T
核辐射或X射线辐射的测量
G01T1/00
X射线辐射、γ射线辐射、微粒子辐射或宇宙线辐射的测量
G01T1/16
辐射强度测量
G01T1/20
用闪烁探测器
G01T1/202
闪烁体是晶体的
法律状态
2022-05-24 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01T 1/202
申请日 : 20201104
申请日 : 20201104
2022-05-06 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载