单点探测器扫描成像装置
授权
摘要
本实用新型的目的是针对现有技术的不足，提出一种单点探测器扫描成像装置，通过使用扫描振镜、成像镜头、光学小孔、光学探测器以及双功能信号数据卡组成一个扫描成像系统，通过扫描振镜实现入射光线的角度变化，进而使用光学小孔实现光学滤波，只检测通过系统光轴的光线，基于双功能信号数据卡采集不同振镜角度下的光电信号，实现二维光学图像的采集，在该系统的基础上，通过更换扫描振镜的镜面镀膜材料与不同工作波长的光电探测器，可以实现从紫外光到远红外光的二维光学图像的扫描成像。
基本信息
专利标题 ：
单点探测器扫描成像装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021446344.2
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-07-21
授权号 ：
CN212674787U
授权日 ：
2021-03-09
发明人 ：
蔡夫鸿臧会双
申请人 ：
海南和光仪器科技有限公司
申请人地址 ：
海南省海口市美兰区海大桥西周转房
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN202021446344.2
主分类号 ：
G01N21/84
IPC分类号 ：
G01N21/84 G02B26/10
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
法律状态
2021-03-09 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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