单点扫描的毫米波安检系统
授权
摘要
本发明涉及安检技术领域，尤其是公开了一种单点扫描的毫米波安检系统，包括机架、三棱金属反射转镜、位于三棱金属反射转镜正上方的单点扫描模块、信号采集处理模块、连接信号采集处理模块的成像显示模块、连接成像显示模块的自动识别模块、能驱动单点扫描模块移动的扫描驱动机构、能驱动三棱金属反射转镜旋转的旋转驱动机构；三棱金属反射转镜可转动连接于机架上；单点扫描模块可沿三棱金属反射转镜长度方向移动地连接于机架上；单点扫描模块包括可向三棱金属反射转镜发射毫米波的毫米波源和毫米波探测器。本发明采用单点扫描及合成孔径全息成像原理，简化了机械及电子线路，降低了成本；开放的检测区空间，提高了安检的安全性和舒适性。
基本信息
专利标题 ：
单点扫描的毫米波安检系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201922038304.8
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-11-22
授权号 ：
CN212647023U
授权日 ：
2021-03-02
发明人 ：
沈海平穆宝忠熊凯
申请人 ：
浙江云特森科技有限公司
申请人地址 ：
浙江省杭州市萧山区萧山经济技术开发区启迪路198号杭州湾信息港B座B2-602室
代理机构 ：
浙江永鼎律师事务所
代理人 ：
郭小丽
优先权 ：
CN201922038304.8
主分类号 ：
G01V8/00
IPC分类号 ：
G01V8/00 G01V8/14 G01V8/18 G01S13/88 G01S13/90 G01S13/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01V
地球物理；重力测量；物质或物体的探测；示踪物
G01V8/00
用光学装置勘探或探测
法律状态
2021-03-02 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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