一种安检扫描架
授权
摘要

本实用新型实施例公开了一种安检扫描架。本实用新型的安检扫描架,包括:基架、扫描架和扫描检测组件;所述扫描架安设在所述基架上,所述扫描架和所述基架之间形成安检通道;所述扫描检测组件包括:多个X光发生单元和X光检测单元,多个所述X光发生单元设置在所述扫描架上,所述X光检测单元设置在所述基架的下侧,所述X光检测单元用于检测多个所述X光发生单元发出的X光。本实用新型的安检扫描架既提高了设备的可靠性,又避免了机械磨损、降低了维护频次。

基本信息
专利标题 :
一种安检扫描架
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202021148240.3
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-06-19
授权号 :
CN212433432U
授权日 :
2021-01-29
发明人 :
曹斌徐红春沈志峰姜亚国
申请人 :
纳米维景(上海)医疗科技有限公司
申请人地址 :
上海市浦东新区广丹路222弄2号101室、102室
代理机构 :
上海得民颂知识产权代理有限公司
代理人 :
傅云
优先权 :
CN202021148240.3
主分类号 :
G01V5/00
IPC分类号 :
G01V5/00  G01N23/04  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01V
地球物理;重力测量;物质或物体的探测;示踪物
G01V5/00
应用核辐射进行勘探或探测,例如,利用天然的或诱导的放射性
法律状态
2021-01-29 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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