一种断层扫描安检装置
授权
摘要

本实用新型公开了一种断层扫描安检装置,包括检验台,检验台顶端的中部开设有环槽,环槽内壁的两侧分别与环型板的两侧滑动连接,环型板顶端的两侧均固定设有竖杆,两个竖杆外壁的中部分别与检测环顶端的两侧滑动连接,检测环内壁两侧的中部均开设有凹槽,设置了挡板,将X射线光电传感器放置在凹槽内,当打开挡板时,X射线光电传感器在弹簧的弹力作用下即可从凹槽内弹出,开始进行安检工作,当使用完毕后,将挡板关闭,在挡板的挤压作用下,即可将X射线光电传感器放置在凹槽内,便于对X射线光电传感器进行防护,避免X射线光电传感器由于外力作用而受到损坏,提高了X射线光电传感器的使用寿命。

基本信息
专利标题 :
一种断层扫描安检装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202020479857.7
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-04-03
授权号 :
CN211905159U
授权日 :
2020-11-10
发明人 :
李凌云
申请人 :
武汉艾崴科技有限公司
申请人地址 :
湖北省武汉市洪山区书城路26号洪山科技创业中心A栋112室
代理机构 :
北京盛凡智荣知识产权代理有限公司
代理人 :
邓凌云
优先权 :
CN202020479857.7
主分类号 :
G01N23/046
IPC分类号 :
G01N23/046  G01V5/00  B08B1/00  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/02
通过使辐射透过材料
G01N23/04
并形成材料的图片
G01N23/046
应用X光断层技术,如计算机X光断层技术
法律状态
2020-11-10 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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