一种安检设备控制装置及安检设备
授权
摘要
本实用新型提供了一种安检设备控制装置及安检设备，其中安检设备控制装置包括供电单元，中央处理器单元，存储器单元，可编程逻辑控制器单元，接口单元。本实用新型提供的安检设备控制装置及安检设备，集中控制外部显示器，摄像头，X射线装置，传送带装置等外部设备，使安检设备的集成度更高，稳定性更强，便于检修和维护，同时摆脱了计算机的束缚，降低了安检设备的成本。
基本信息
专利标题 ：
一种安检设备控制装置及安检设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201922100057.X
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-11-29
授权号 ：
CN211235598U
授权日 ：
2020-08-11
发明人 ：
邹学平夏迅
申请人 ：
深圳市天和时代电子设备有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市福田区梅林街道北环路梅林多丽工业区厂房2栋第3层311房
代理机构 ：
重庆百润洪知识产权代理有限公司
代理人 ：
刘泽正
优先权 ：
CN201922100057.X
主分类号 ：
G01N23/04
IPC分类号 ：
G01N23/04 G01V5/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料，例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/02
通过使辐射透过材料
G01N23/04
并形成材料的图片
法律状态
2020-08-11 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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