安检设备及安检系统
授权
摘要
本实用新型提供一种安检设备及安检系统，包括：支架，限定沿第一方向延伸的检查通道；第一X射线加速器，设置在支架的顶部偏移检查通道的中心线的位置，配置成向下朝向检查通道辐射第一X射线，用以对通过检查通道的待检物品进行检查；第二X射线加速器，配置成沿第三方向向检查通道辐射第二X射线用以对通过检查通道的待检物品进行检查；以及探测器装置，包括：多个探测器模块，设置在支架上与第一X射线加速器和第二X射线加速器面对的位置，用于接收至少一部分第一X射线和/或第二X射线，以形成待检物品的透射图像；其中，第一X射线、第二X射线及探测器装置中的探测器模块构造成位于同一平面内。
基本信息
专利标题 ：
安检设备及安检系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202123413441.9
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-12-31
授权号 ：
CN216595556U
授权日 ：
2022-05-24
发明人 ：
李元景孙尚民宗春光宋涛刘磊马媛喻卫丰刘必成
申请人 ：
同方威视科技（北京）有限公司;同方威视技术股份有限公司
申请人地址 ：
北京市密云区经济开发区园林路18号10号楼
代理机构 ：
中科专利商标代理有限责任公司
代理人 ：
张博
优先权 ：
CN202123413441.9
主分类号 ：
G01V5/00
IPC分类号 ：
G01V5/00 G01N23/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01V
地球物理；重力测量；物质或物体的探测；示踪物
G01V5/00
应用核辐射进行勘探或探测，例如，利用天然的或诱导的放射性
法律状态
2022-05-24 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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