一种飞点扫描装置及安检设备
授权
摘要
本实用新型公开了一种飞点扫描装置及安检设备，其中飞点扫描装置包括：带有狭缝的斩波轮；用于驱动斩波轮旋转的旋转机构；用于发射X射线光束的X射线源；用于接收X射线源的X射线探测器；设置于X射线源和斩波轮之间的前置准直狭缝。本实用新型中通过驱动斩波轮做旋转运动，使得X射线源通过前置准直狭缝后，通过快速旋转的斩波轮产生极细X射线光束，进而产生对待扫描客体的某一维度方向(如Y方向)飞点扫描，同时通过待扫描客体和扫描平台的相对运动产生另一维度方向(如X方向)的一维扫描，从而最终实现进行对待扫描客体平面的扫描操作，进而实现X射线图像的快速重构成像，提高安检效率及准确率。
基本信息
专利标题 ：
一种飞点扫描装置及安检设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021057788.7
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-06-10
授权号 ：
CN212693641U
授权日 ：
2021-03-12
发明人 ：
熊凯韩畅沈海平
申请人 ：
浙江云特森科技有限公司
申请人地址 ：
浙江省杭州市萧山区萧山经济技术开发区启迪路198号杭州湾信息港B座B2-902室
代理机构 ：
杭州知学知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
张雯
优先权 ：
CN202021057788.7
主分类号 ：
G01N23/203
IPC分类号 ：
G01N23/203 G01N23/20008 G01V5/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料，例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/20
利用材料辐射的衍射，例如，用于测试晶体结构；利用材料辐射的散射，例如测试非晶材料；利用材料辐射的反射
G01N23/203
测量背散射
法律状态
2021-03-12 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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