毫米波扫描成像安检设备及系统
授权
摘要

本实用新型涉及安检技术领域,提供了一种毫米波扫描成像安检设备及系统,毫米波扫描成像安检设备包括:传送装置及第一毫米波雷达模块;传送装置用于沿第一方向传送位于其上的待检测对象;第一毫米波雷达模块包括三个毫米波雷达收发阵列;第一毫米波雷达模块中的其中两个毫米波雷达收发阵列分别位于传送装置的两侧,第一毫米波雷达模块中的第三个毫米波雷达收发阵列位于传送装置的正上方,且第一毫米波雷达模块中的三个毫米波雷达收发阵列均位于第一平面上;其中,第一平面与第一方向垂直。待检测对象站立在传送装置上通过第一平面即可完成全方位扫描,无需停留,可连续进行扫描,通过率高,适合人流量较大的安检场所使用。

基本信息
专利标题 :
毫米波扫描成像安检设备及系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202021553165.9
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-07-30
授权号 :
CN212623136U
授权日 :
2021-02-26
发明人 :
郑远秦屹
申请人 :
森思泰克河北科技有限公司
申请人地址 :
河北省石家庄市鹿泉经济开发区御园路99号西孵化楼三楼
代理机构 :
石家庄国为知识产权事务所
代理人 :
秦敏华
优先权 :
CN202021553165.9
主分类号 :
G01V8/00
IPC分类号 :
G01V8/00  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01V
地球物理;重力测量;物质或物体的探测;示踪物
G01V8/00
用光学装置勘探或探测
法律状态
2021-02-26 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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