用于辐射成像的Gamma计数探测器
避免重复授权放弃专利权
摘要

用于辐射成像的Gamma计数探测器,属于辐射检测技术领域。本实用新型包括由光敏器件和闪烁晶体组成的探测器部件,与探测器部件连接的带放大回路、比较回路、数字脉冲输出回路的电路板和稳压器以及端面上置有与电路板电路连接的输出插座及包容整体的金属壳体。其结构特点是,所述闪烁晶体表面涂有反射层或者置有反光材料层并与光敏器件通过光学胶耦合粘接。闪烁晶体与光敏器件的连接整体置有避光材料层并由带减震垫的金属盒包容,金属盒表面亦置有避光材料层。同现有技术相比,本实用新型不仅增强了抗干扰能力,同时可使射线入射面的成像死区减小、调节高压和上下阈方便,与后续电路的互连方便。

基本信息
专利标题 :
用于辐射成像的Gamma计数探测器
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN200620022972.1
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2006-05-16
授权号 :
CN2919276Y
授权日 :
2007-07-04
发明人 :
李元景张清军赵书清李建华李树伟
申请人 :
清华同方威视技术股份有限公司;清华大学
申请人地址 :
100083北京市清华同方科技广场A座2907
代理机构 :
代理人 :
优先权 :
CN200620022972.1
主分类号 :
G01T1/16
IPC分类号 :
G01T1/16  G01T1/202  G01T1/17  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01T
核辐射或X射线辐射的测量
G01T1/00
X射线辐射、γ射线辐射、微粒子辐射或宇宙线辐射的测量
G01T1/16
辐射强度测量
法律状态
2011-10-19 :
避免重复授权放弃专利权
号牌文件类型代码 : 1602
号牌文件序号 : 101193513072
IPC(主分类) : G01T 1/16
专利号 : ZL2006200229721
申请日 : 20060516
授权公告日 : 20070704
放弃生效日 : 20111019
2007-12-26 :
专利权人的姓名或者名称、地址的变更
变更事项 : 专利权人
变更前 : 清华同方威视技术股份有限公司
变更后 : 同方威视技术股份有限公司
变更事项 : 地址
变更前 : 100083北京市清华同方科技广场A座2907
变更后 : 100083北京市清华同方科技广场A座2907
变更事项 : 共同专利权人
变更前 : 清华大学
变更后 : 清华大学
2007-07-04 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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