一种用于辐射成像的多阵列探测器模块结构
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摘要

一种用于辐射成像的多阵列探测器模块结构,属于辐射检测技术领域。它包括壳体、底板及由多个探测器组成的多排探测器阵列,壳体的底端与底板固定。其结构特点是,底板上置有由安装框架形成的上层板和下层板,并在其上安装外围探测器阵列。中间的各排探测器阵列分别与彼邻外围的探测器阵列固定。各排探测器阵列之间和各探测器之间置有重金属片,各排探测器阵列的外围与安装框架之间置有的铅皮。各排探测器阵列的信号输出端分别与置于壳体内的各层电子线路板的输入端连接。同现有技术相比,本发明仅增加较小投入及结构改进,便可获得较大的经济效益。具有结构简单、安装使用维修方便的特点。

基本信息
专利标题 :
一种用于辐射成像的多阵列探测器模块结构
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN1991408A
申请号 :
CN200510136318.3
公开(公告)日 :
2007-07-04
申请日 :
2005-12-31
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
李元景李树伟张清军缪庆文代主得江年铭王永强
申请人 :
清华同方威视技术股份有限公司;清华大学
申请人地址 :
100083北京市清华同方科技广场A座2907
代理机构 :
代理人 :
优先权 :
CN200510136318.3
主分类号 :
G01T1/16
IPC分类号 :
G01T1/16  G01N23/04  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01T
核辐射或X射线辐射的测量
G01T1/00
X射线辐射、γ射线辐射、微粒子辐射或宇宙线辐射的测量
G01T1/16
辐射强度测量
法律状态
2009-04-29 :
授权
2007-08-29 :
实质审查的生效
2007-07-04 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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