一种辐射成像探测器
专利权的终止
摘要
本实用新型提供一种辐射成像探测器,包括若干个探测单元以双列相对交错方式排列而成,所述探测单元采用锗酸铋晶体与光电倍增管耦合的方式,具体包括有锗酸铋晶体、晶体套筒、光电倍增管、管套筒、管座及电路模块和接口底盘,其中所述光电倍增管、管座及电路模块设于管套筒内,所述锗酸铋晶体外表包覆晶体套筒并与管套筒内的光电倍增管耦合,所述管套筒的另一端设有上述接口底盘,所述光电倍增管与该接口底盘之间通过上述管座及电路模块相连接。该种辐射成像探测器,适用于低强度辐射源条件下的辐射成像探测,可降低对环境的辐射影响,减小对相关人员的电离辐射伤害,且具有很好的抗恶劣气候环境的能力,制造成本低,具有很好的经济效益和社会效益。
基本信息
专利标题 :
一种辐射成像探测器
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN200720311040.3
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2007-12-19
授权号 :
CN201145674Y
授权日 :
2008-11-05
发明人 :
陈力董国平金川韩其芳黄校垣曹琴琴
申请人 :
公安部第一研究所;北京中盾安民分析技术有限公司
申请人地址 :
100044北京市海淀区首体南路1号
代理机构 :
北京中海智圣知识产权代理有限公司
代理人 :
曾永珠
优先权 :
CN200720311040.3
主分类号 :
G01N23/04
IPC分类号 :
G01N23/04 G03B42/02 G21K5/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/02
通过使辐射透过材料
G01N23/04
并形成材料的图片
法律状态
2018-01-23 :
专利权的终止
专利权有效期届满IPC(主分类) : G01N 23/04
申请日 : 20071219
授权公告日 : 20081105
申请日 : 20071219
授权公告日 : 20081105
2008-11-05 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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