用于辐射成像的探测器模块及具有其的辐射成像检查系统
避免重复授权放弃专利权
摘要
本实用新型涉及一种用于辐射成像的探测器模块,该探测器模块包括外壳;固定在外壳上的背板,所述背板包括背板电路板;设置在所述背板电路板上的至少一个第一插接件和至少一个第二插接件;至少一块前端电路板,所述前端电路板通过所述第一插接件与所述背板电路板电连接;和探测器,所述探测器通过所述第二插接件与所述背板电路板电连接。由此,本实用新型的探测器模块具有以下优点:模块组装方便;前端电路板拆卸方便,适合模块电路调试与维修;探测器由探测器组件构成,易于和探测器模块分离;等等。本实用新型还涉及一种使用了上述探测器模块的辐射成像检查系统。
基本信息
专利标题 :
用于辐射成像的探测器模块及具有其的辐射成像检查系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN200820122832.0
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2008-09-28
授权号 :
CN201266181Y
授权日 :
2009-07-01
发明人 :
江年铭李元景张清军王均效赵书清张文剑
申请人 :
同方威视技术股份有限公司;清华大学
申请人地址 :
100084北京市海淀区双清路同方大厦A座2层
代理机构 :
中科专利商标代理有限责任公司
代理人 :
王新华
优先权 :
CN200820122832.0
主分类号 :
G01N23/04
IPC分类号 :
G01N23/04 A61B6/03
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/02
通过使辐射透过材料
G01N23/04
并形成材料的图片
法律状态
2011-05-11 :
避免重复授权放弃专利权
号牌文件类型代码 : 1602
号牌文件序号 : 101085510733
IPC(主分类) : G01N 23/04
专利号 : ZL2008201228320
申请日 : 20080928
授权公告日 : 20090701
放弃生效日 : 20080928
号牌文件序号 : 101085510733
IPC(主分类) : G01N 23/04
专利号 : ZL2008201228320
申请日 : 20080928
授权公告日 : 20090701
放弃生效日 : 20080928
2009-07-01 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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