一种用于辐射成像的双阵列固体探测器模块结构
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摘要
一种用于辐射成像的双阵列固体探测器模块结构,涉及辐射成像的固体探测器装置。它包括壳体、底板及由多个固体探测器组成的固体探测器阵列。壳体呈型,其底端与底板固定。壳体内置有支架将线路板固定,壳体的前端面置有与其连接的各插座,壳体上端和后端面配装有上盖板和后盖。壳体的下方、底板上放置固体探测器阵列。固体探测器阵列前端置有准直器。其特点是,固体探测器阵列是由上下双排固体探测器阵列组成,上下排固体探测器阵列分别与准直器的上端面和下端面及与底板固定的前后支柱上支撑的PCB上下支板固定。本发明与现有技术相比,不仅减少了沿着束流面和垂直束流面的各种散射,提高了抗散射性能和图像的清晰度,而且可使检测速度大大提高。
基本信息
专利标题 :
一种用于辐射成像的双阵列固体探测器模块结构
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN101013094A
申请号 :
CN200510086766.7
公开(公告)日 :
2007-08-08
申请日 :
2005-11-03
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
李元景张清军赵书清代主得江年铭
申请人 :
清华大学;清华同方威视技术股份有限公司
申请人地址 :
100083北京市清华同方科技广场A座2907
代理机构 :
代理人 :
优先权 :
CN200510086766.7
主分类号 :
G01N23/04
IPC分类号 :
G01N23/04 G01T1/202
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/02
通过使辐射透过材料
G01N23/04
并形成材料的图片
法律状态
2010-12-29 :
授权
2007-10-03 :
实质审查的生效
2007-08-08 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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