MCU供电电路、FT测试设备和FT测试系统
授权
摘要

本申请实施例提出了一种MCU供电电路、FT测试设备和FT测试系统,该MCU供电电路包括:电源以及供电选择电路;电源包括第一连接端、第二连接端,供电选择电路包括第三连接端以及多个供电选择节点;第一连接端,用于连接MCU的第一引脚;多个供电选择节点中的任一个供电选择节点,用于作为被选端与第二连接端连接,以接入电源提供的供电电压;第三连接端,用于连接MCU的第二引脚;其中,第一引脚和第二引脚中的其中一个为MCU中的数字电路的供电引脚,另一个为MCU中的模拟电路的供电引脚;MCU供电电路用于通过电源和供电选择电路,对MCU中的模拟电路和数字电路进行分时序上电。以此可以满足FT测试场景下对于被测对象的多种上电需求。

基本信息
专利标题 :
MCU供电电路、FT测试设备和FT测试系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202122641198.X
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2021-10-29
授权号 :
CN216434294U
授权日 :
2022-05-03
发明人 :
张旺宝葛俊郭承省温禄泉曹竟元章小平曾豪
申请人 :
珠海极海半导体有限公司;成都极海科技有限公司
申请人地址 :
广东省珠海市横琴新区宝华路6号105室-68710(集中办公区)
代理机构 :
北京汇思诚业知识产权代理有限公司
代理人 :
罗艳
优先权 :
CN202122641198.X
主分类号 :
G01R31/3167
IPC分类号 :
G01R31/3167  H02M1/00  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/3167
••综合的模拟和数字电路测试
法律状态
2022-05-03 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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