一种S波段耐功率测试装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种S波段耐功率测试装置，包括放大电路，所述放大电路的输出端与双定向耦合器连接，所述双定向耦合器的输出端与检波器电路的输入端连接，所述检波器电路的输出端与过反射保护电路连接；所述过反射保护电路的输出端与调制电路连接，所述调制电路的输出端与所述放大电路的供电端连接；该S波段耐功率测试装置通过在检波器的输出端设置调制电路和过反射保护电路，当发射功率高于正常值时，通过调制电路关断功率放大电路的供电端，从源头上防止过发射现象的发生，从而起到保护功率测试设备的作用。
基本信息
专利标题 ：
一种S波段耐功率测试装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202122641771.7
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-10-29
授权号 ：
CN216622524U
授权日 ：
2022-05-27
发明人 ：
刘建波鲍鹏展
申请人 ：
南京正銮电子科技有限公司
申请人地址 ：
江苏省南京市经济技术开发区红枫科技园A2栋4层
代理机构 ：
江苏圣典律师事务所
代理人 ：
梅学兵
优先权 ：
CN202122641771.7
主分类号 ：
G01R31/00
IPC分类号 ：
G01R31/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）
法律状态
2022-05-27 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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